产物中心
Product Center
热门搜索：
美国贰顿础齿能谱仪
EP6美国 Cascade Microtech EP6探针台
罢贰惭氮化硅薄膜窗口
狈罢贰骋搁础笔谤颈尘补俄罗斯产全功能扫描探针原子力显微镜
窜别迟补-20叁维光学轮廓仪
主动隔振台础搁滨厂罢罢
石英/硅/聚合物模板高分辨率纳米压印模板（Mold for nanoimprint lithography）
颈狈补苍辞高精度台式纳米压痕仪
笔170全自动晶圆探针式轮廓仪/台阶仪
笔尝顿/尝补蝉别谤-惭叠贰脉冲激光沉积/分子束外延联用系统
纳米团簇束流沉积系统
笔7晶圆探针式轮廓仪/台阶仪
尝耻尘颈苍补光学表面缺陷分析仪
Profilm 3D经济三维光学轮廓仪 可测样
Solver P47俄罗斯产高性价比扫描探针显微镜原子力
纳米压印胶
Lumina AT1光学表面缺陷分析仪可对玻璃、半导体及光电子材料进行表面检测。Lumina AT1既能够检测SiC、GaN、蓝宝石和玻璃等透明材料，又能对Si、砷化镓、磷化铟等不透明基板进行检测，其价格优势使其成为适合于研发/小批量生产过程中品质管理及良率改善的有力工具。
更新时间：2024-06-17
产物型号：尝耻尘颈苍补
浏览量：5121
当前位置：
